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Resumo Original (PT):

ESTE TRABALHO TEVE COMO OBJETIVOS A PREPARAÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE FILMES FINOS DE YBA2CU3O7-X E LA0.7CA0.3MNO3, DEPOSITADOS SOBRE SUBSTRATOS DE NÍQUEL METÁLICO, SILÍCIO, E SUBSTRATOS CERÂMICOS DE MGO, SRTIO3 E LAALO3. AS ANÁLISES REALIZADAS TIVERAM COMO OBJETIVOS O ESTUDO DA FORMAÇÃO DA FASE, E A DETERMINAÇÃO DO COMPORTAMENTO DE CONDUÇÃO ELÉTRICA E DAS PROPRIEDADES MAGNÉTICAS DOS FILMES FINOS. NAS DEPOSIÇÕES REALIZADAS SOBRE SUBSTRATOS DE NÍQUEL FOI UTILIZADA UMA CAMADA INTERMEDIÁRIA DE Y2O3, PARA POSTERIOR DEPOSIÇÃO DE YBA2CU3O7-X. AS SOLUÇÕES PRECURSORAS DOS FILMES FORAM OBTIDAS ATRAVÉS DO MÉTODO DOS PRECURSORES POLIMÉRICOS, COM A INCLUSÃO DO ÁCIDO ETILENODIAMINOTETRAACÉTICO (EDTA) COMO AGENTE COMPLEXANTE. AS DEPOSIÇÕES OCORRERAM ATRAVÉS DA TÉCNICA SPIN-COATING. AS ANÁLISES REALIZADAS ATRAVÉS DA ESPECTROSCOPIA DE FOTOELÉTRONS DE RAIOS X (XPS) E DIFRAÇÃO DE RAIOS X (XRD) AUXILIARAM, NA IDENTIFICAÇÃO DOS ELEMENTOS QUÍMICOS PRESENTES NOS FILMES FINOS, E NA VERIFICAÇÃO DA FORMAÇÃO DAS FASES CRISTALOGRÁFICAS DESEJADAS. ESTAS TÉCNICAS PERMITIRAM COMPROVAR A EFICÁCIA DA CAMADA INTERMEDIÁRIA (BUFFER LAYER) DE Y2O3 UTILIZADA PARA A DEPOSIÇÃO DE YBA2CU3O7-X SOBRE SUBSTRATOS DE NÍQUEL METÁLICO, E COMPROVAR A NECESSIDADE DE UMA CAMADA BUFFER LAYER PARA A OBTENÇÃO DE FILMES DE YBA2CU3O7-X DEPOSITADO SOBRE SUBSTRATO DE SILÍCIO. ASSIM COMO NA DEPOSIÇÃO REALIZADA SOBRE SUBSTRATO DE NÍQUEL, FOI VERIFICADA TAMBÉM A BOA FORMAÇÃO DAS FASES DESEJADAS SOBRE OS SUBSTRATOS CERÂMICOS. AS ANÁLISES DE CONDUÇÃO ELÉTRICA E DAS PROPRIEDADES MAGNÉTICAS DEMONSTRARAM A CARACTERÍSTICA SUPERCONDUTORA DOS FILMES DE YBA2CU3O7-X DEPOSITADOS SOBRE SUBSTRATOS DE NÍQUEL METÁLICO, MGO E SRTIO3, E A CARACTERÍSTICA MAGNÉTICA DO FILME DE LA0.7CA0.3MNO3 DEPOSITADO SOBRE SUBSTRATO DE SILÍCIO. AS ANÁLISES REALIZADAS ATRAVÉS DA MICROSCOPIA DE ELÉTRONS DE VARREDURA (SEM) MOSTRARAM UMA MELHOR FORMAÇÃO DO FILME FINO DE YBA2CU3O7-X SOBRE O SUBSTRATO DE MGO, E A OCORRÊNCIA DE REGIÕES DOS SUBSTRATOS NÃO COBERTAS PELO FILME FINO.

Palavras-Chave (EN):

Resumo Original (EN):

THIS PAPER AIMED AT PREPARING AND CHARACTERIZING YBA2CU3O7-X AND LA0.7CA0.3MNO3 THIN FILMS, DEPOSITED ON METALLIC NICKEL SUBSTRATES, SILICON AND MGO, SRTIO3 AND LAALO3 CERAMIC SUBSTRATES. THE ANALYSES PERFORMED HAD AS OBJECTIVES TO STUDY THE PHASE FORMATION AND TO DETERMINE THE ELECTRIC CONDUCTION BEHAVIOR AND THE MAGNETIC PROPERTIES OF THE THIN FILMS. IN THE DEPOSITIONS PERFORMED ON NICKEL SUBSTRATES, A Y2O3 BUFFER LAYER WAS UTILIZED FOR POSTERIOR YBA2CU3O7-X DEPOSITION. THE PRECURSORY SOLUTIONS OF THE FILMS WERE OBTAINED BY MEANS OF THE POLYMERIC PRECURSOR METHOD, WITH THE INCLUSION OF THE ETHYLENEDIAMINOTETRA ACETIC ACID (EDTA), AS A COMPLEXANT AGENT. THE DEPOSITIONS OCCURRED THROUGH THE SPIN-COATING TECHNIQUE. THE ANALYSES PERFORMED BY MEANS OF THE X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (XPS) AND X-RAY DIFFRACTION (XRD) AIDED IN THE IDENTIFICATION OF THE CHEMICAL ELEMENTS PRESENT IN THE THIN FILMS AND IN THE VERIFICATION OF THE FORMATION OF THE DESIRED CRYSTALLOGRAPHIC PHASES. SUCH TECHNIQUES ALLOWED FOR CONFIRMING THE Y2O3 BUFFER LAYER EFFICACY, UTILIZED TO THE YBA2CU3O7-X DEPOSITION ON METALLIC NICKEL SUBSTRATES, AND FOR CONFIRMING THE NEED OF A BUFFER LAYER IN ORDER TO OBTAIN THE YBA2CU3O7-X FILMS DEPOSITED ON THE SILICON SUBSTRATE. AS IN THE DEPOSITION PERFORMED ON THE NICKEL SUBSTRATE, IT WAS ALSO VERIFIED THE GOOD FORMATION OF THE DESIRED PHASES ON THE CERAMIC SUBSTRATES. THE ANALYSES ON ELECTRICAL CONDUCTION AND MAGNETIC PROPERTIES DEMONSTRATED THE SUPERCONDUCTING CHARACTERISTIC OF THE YBA2CU3O7-X FILMS DEPOSITED ON METALLIC NICKEL SUBSTRATES, MGO AND SRTIO3, AS WELL AS THE MAGNETIC CHARACTERISTIC OF THE LA0.7CA0.3MNO3 FILM DEPOSITED ON THE SILICON SUBSTRATE. THE ANALYSES PERFORMED BY MEANS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY (SEM) SHOWED A BETTER YBA2CU3O7-X THIN FILM FORMATION ON THE MGO SUBSTRATE, AND THE OCCURRENCE OF AREAS OF THE SUBSTRATES NOT COVERED BY THE THIN FILM.

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