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Detalhes do Documento


DISSERTAÇÃO DE MESTRADO
Título Original (PT):
DEPOSIÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE FILMES DE ÓXIDO DE COBALTO POR SPUTTERING REATIVO
Autor:
FRANCELOSI AZEVEDO NETO, NILTON
Email:
nilton_fab@hotmail.com
Instituição:
UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO (UNESP) - BRASIL
Unidade:
FACULDADE DE CIÊNCIAS (FC) - BAURU - SP
Local de Publicação:
BAURU
Data de Publicação:
2014
Área:
MULTIDISCIPLINAR
Área de Concentração:
MATERIAIS
Titulação:
MESTRE(A) EM MATERIAIS
Orientador:
Dr. SILVA, JOSE HUMBERTO DIAS DA
Banca Examinadora:
Dr. LISBOA FILHO, PAULO NORONHA
Dr. SILVA, JOSE HUMBERTO DIAS DA
Dr. DE PAULA, FERNANDO ROGERIO
Data de Defesa:
15/08/2014
Palavras-Chave (PT):
CO3O4
COO
MULTICAMADAS
SIMULAÇÃO DO PROCESSO DE SPUTTERING
SPUTTERING
Resumo Original (PT):
FILMES DE ÓXIDO DE COBALTO APRESENTAM INTERESSES PARA APLICAÇÕES EM CATÁLISE, SENSORES DE GÁS E PARA ESTUDOS DO EFEITO DE EXCHANGE BIAS EM MULTICAMADAS DE COO/CO/COO. NESTE TRABALHO, FILMES DE ÓXIDO DE COBALTO FORAM DEPOSITADOS USANDO A TÉCNICA DE DC SPUTTERING, NAS POTÊNCIAS 80, 120 E 240 W. A SUPERFÍCIE DOS FILMES PREPARADOS EM 240 W TRINCOU, ENQUANTO OS FILMES PREPARADOS A POTÊNCIAS MENORES NÃO APRESENTARAM TRINCAS. MEDIDAS DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X INDICARAM A PRESENÇA DA FASE CO3O4 NAS DEPOSIÇÕES DE 80 E 120 W. PARA DEPOSIÇÃO COM 240 W, OBSERVA-SE APENAS A PRESENÇA DA FASE COO. OS ESPECTROS DE ESPALHAMENTO RAMAN DOS FILMES APRESENTARAM BANDAS REFERENTES AOS MODOS DO CO3O4 PARA TODAS AS AMOSTRAS CRESCIDAS, JÁ A ANÁLISE DE TRANSMITÂNCIA NO INFRAVERMELHO APRESENTOU BANDAS DE ABSORÇÃO RELACIONADAS À FASE CO3O4 NOS FILMES DEPOSITADOS COM BAIXA POTÊNCIA, E UMA MISTURA DE BANDAS DO COO E CO3O4 NA DEPOSIÇÃO A 240 W. O ESPECTRO DE TRANSMITÂNCIA NO UV/VIS/NIR APRESENTOU ABSORÇÕES RELACIONADAS A TRANSIÇÕES ELETRÔNICAS DO ÓXIDO DE COBALTO EM 0,8, 0,9, 1,7 E 3 EV NA AMOSTRA CRESCIDA EM 80 W. COM O OBJETIVO DE CRIAR CAMADAS NANOMÉTRICAS DE COBALTO PURO, INTERCALADAS COM FILMES DE ÓXIDO DE COBALTO, FORAM DEPOSITADOS FILMES NOS QUAIS O FLUXO DE OXIGÊNIO FOI INTERROMPIDO. A POTÊNCIA UTILIZADA FOI 120 W E OS TEMPOS DE INTERRUPÇÃO FORAM 120 E 12S. IMAGENS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA INDICARAM QUE NÃO HOUVE RACHADURAS NA SUPERFÍCIE DOS FILMES E MEDIDAS NA SEÇÃO TRANSVERSAL DAS AMOSTRAS INDICARAM FORMAÇÃO DAS CAMADAS METÁLICAS NO INTERIOR DO FILME DEPOSITADO COM INTERRUPÇÃO DE OXIGÊNIO POR 120S. ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X DAS MULTICAMADAS MOSTROU UM FAVORECIMENTO DA FASE COO EM RELAÇÃO AO TETRAÓXIDO, PORÉM O ESPECTRO RAMAN DOS FILMES APRESENTARAM PICOS CLAROS DA FASE CO3O4. UTILIZANDO UMA SIMULAÇÃO COMPUTACIONAL BASEADA NO MÉTODO DE MONTE CARLO (STOPPING AND RANGE OF IONS IN MATTER-SRIM) ESTIMOU-SE A ENERGIA COM QUE OS ÁTOMOS E ÍONS CHEGAM AO SUBSTRATO QUANDO A DEPOSIÇÃO É FEITA COM POTÊNCIAS DE 120 E 240 W. OBSERVOU-SE UM AUMENTO DA ENERGIA CINÉTICA MÉDIA DOS ÍONS DE OXIGÊNIO QUE CHEGAM À SUPERFÍCIE DO FILME DE 26 PARA 32 EV QUANDO A POTÊNCIA DE DEPOSIÇÃO É DOBRADA. A PARTIR DESSES RESULTADOS PROPÕESE UMA EXPLICAÇÃO PARA AS MODIFICAÇÕES ESTRUTURAIS E MORFOLÓGICAS PROVOCADAS PELO AUMENTO DA POTÊNCIA DE DEPOSIÇÃO.
Título (EN):
DEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF THIN FILM COBALT OXIDE BY REACTIVE SPUTTERING
Palavras-Chave (EN):
CO3O4
COO
MULTILAYER
SIMULATION OF SPUTTERING PROCESS
SPUTTERING
Resumo Original (EN):
COBALT OXIDE FILMS HAVE INTEREST FOR APPLICATIONS IN CATALYSIS, GAS SENSORS, AND FOR STUDIES OF THE EXCHANGE BIAS EFFECT IN COO /CO /COO MULTILAYERS. IN THIS WORK, COBALT OXIDE FILMS WERE DEPOSITED USING DC SPUTTERING TECHNIQUE. THE DEPOSITION POWERS TESTED WERE 80, 120 AND 240 W . THE SURFACES OF THE FILMS PREPARED AT 240 W HAVE CRACKED, WHILE FILMS PREPARED AT LOWER POWERS SHOWED NO CRACKS. X-RAY DIFFRACTION MEASUREMENTS INDICATED THAT FILMS PREPARED AT LOWER POWERS ARE DOMINATED BY THE CO3O4 WITH SPINEL STRUCTURE WHILE AT HIGHER POWERS THE COO ROCKSALT PHASE IS FAVORED. RAMAN SCATTERING MEASUREMENTS OF THE FILMS SHOWED BANDS RELATED TO CO3O4 SPINEL MODES FOR ALL SAMPLES, WHILE THE INFRARED TRANSMITTANCE ANALYSIS SHOWED ABSORPTION BANDS RELATED TO THE CO3O4 PHASE ON FILMS DEPOSITED AT LOW POWER AND A MIXTURE OF COO AND CO3O4 BANDS DEPOSITION TO 240 W. IN THE UV / VIS / NIR SPECTRUM, ABSORPTION BANDS RELATED TO ELECTRONIC TRANSITIONS OF COBALT OXIDE AT 0.8 , 0.9 , 1.7 AND 3 EV WERE OBSERVED IN THE SAMPLE GROWN AT 80 W. AIMING TO CREATE NANOMETRIC LAYERS OF PURE COBALT INTERSPERSED COBALT OXIDE FILMS, DEPOSITIONS IN WHICH THE OXYGEN FLOW WAS PERIODICALLY STOPPED WERE MADE. IN THESE EXPERIMENTS, THE POWER WAS KEPT AT 120W AND INTERRUPTION PERIODS OF 120 AND 12 S WERE USED. SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IMAGE INDICATED THAT THERE WERE NO CRACKS ON THE SURFACES OF THE FILMS AND CROSS SECTION MEASUREMENTS INDICATED THE FORMATION OF METAL LAYERS INSIDE THE FILM DEPOSITED WITH INTERRUPTION OF OXYGEN FOR 120 S. ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION OF MULTILAYERS SHOWED A FAVORING OF THE COO PHASE, BUT THE RAMAN SPECTRA OF THE FILMS SHOWED CLEAR PEAKS OF CO3O4 PHASE. USING A COMPUTER SIMULATION BASED ON THE MONTE CARLO METHOD ( STOPPING AND RANGE OF IONS IN MATTER , SRIM ) THE ENERGIES OF THE ATOMS AND IONS THAT REACH THE SUBSTRATE WERE ESTIMATED. THE ESTIMATIONS WERE PERFORMED WHEN DEPOSITION IS TAKEN WITH OUTPUTS OF 120 AND 240 W. AN INCREASE OF THE AVERAGE KINETIC ENERGY OF OXYGEN IONS THAT REACH THE SURFACE OF THE FILM FROM 26 TO 32 EV WAS OBSERVED WHEN THE DEPOSITION POWER IS DOUBLED. FROM THESE RESULTS WE PROPOSE AN EXPLANATION FOR THE STRUCTURAL AND MORPHOLOGICAL CHANGES CAUSED BY INCREASED POWER DEPOSITION.
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10/10/2014 ÀS 15:00:41
Atualizado:
10/10/2014 ÀS 15:00:41
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