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Biblioteca Virtual de Teses e Dissertações

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Palavras-Chave (PT):

Resumo Original (PT):

NESTE TRABALHO, FOI REALIZADA A DEPOSIÇÃO, ATRAVÉS DA TÉCNICA DE EVAPORAÇÃO RESISTIVA, DE FILMES FINOS DE GAAS (ARSENETO DE GÁLIO) E DE AL (ALUMÍNIO) COM POSTERIOR OXIDAÇÃO DESTE ÚLTIMO, FORMANDO AL2O3 (ÓXIDO DE ALUMÍNIO OU ALUMINA), E A CARACTERIZAÇÃO DOS FILMES DE GAAS E DA HETEROESTRUTURA FORMADA POR AL2O3 E GAAS. A CONFECÇÃO DO DISPOSITIVO COMBINANDO ESTES COMPOSTOS SERVIU PARA A INVESTIGAÇÃO DAS CARACTERÍSTICAS RELEVANTES DO SISTEMA PARA POTENCIAL APLICAÇÃO EM TRANSISTORES. O TRABALHO COMPREENDEU INVESTIGAÇÃO SOBRE AS CONDIÇÕES DE DEPOSIÇÃO, E FORAM AVALIADAS PRINCIPALMENTE AS CARACTERÍSTICAS ELÉTRICAS DOS FILMES PRODUZIDOS INDIVIDUALMENTE. OS RESULTADOS APRESENTADOS INCLUEM: RESISTIVIDADE EM FUNÇÃO DA TEMPERATURA, CORRENTE-VOLTAGEM EM FUNÇÃO DA TEMPERATURA, DIFRAÇÃO DE RAIOS-X E TRANSMITÂNCIA NA REGIÃO DO INFRAVERMELHO. PARA CARACTERIZAÇÃO DO DESEMPENHO DO SISTEMA AL2O3/GAAS, UM TRANSISTOR SIMPLES FOI CONSTRUÍDO SOB UM SUBSTRATO DE VIDRO BOROSSILICATO COM UMA CAMADA DE GAAS E OUTRA DE AL2O3. OS CONTATOS DE FONTE, DRENO E GATE FORAM FEITOS DE IN. ESSA ESTRUTURA PERMITE A MEDIDA DA CORRENTE DE FUGA E A AVALIAÇÃO DE OUTRAS CARACTERÍSTICAS DO SISTEMA. NESTE DISPOSITIVO FORAM AVALIADAS AS CARACTERÍSTICAS CORRENTE-VOLTAGEM EM FUNÇÃO DA TEMPERATURA, E TAMBÉM A INTERAÇÃO COM LUZ, JÁ QUE GAAS, POR APRESENTAR GAP DIRETO, TORNA-SE ATRAENTE PARA APLICAÇÕES OPTO-ELETRÔNICAS. ASSIM MEDIDAS DE ELÉTRICAS FOTO-INDUZIDAS FORAM REALIZADAS COM EXCITAÇÃO COM FONTES DE LUZ BRANCA. COM O INTUITO DE SE AVALIAR A QUALIDADES DOS FILMES DE GAAS OBTIDOS PELA EVAPORAÇÃO RESISTIVA, TANTO A CARACTERIZAÇÃO ESTRUTURAL QUANDO ELÉTRICA TAMBÉM FORAM FEITAS EM FILMES FINOS DE GAAS DEPOSITADOS POR SPUTTERING, DE MODO A SE TER UM PADRÃO DE COMPARAÇÃO.

Palavras-Chave (EN):

Resumo Original (EN):

IN THIS WORK, THE DEPOSITION OF GAAS (GALLIUM ARSENIDE) AND AL (ALUMINUM) THIN FILMS IS CARRIED OUT BY THE RESISTIVE EVAPORATION TECHNIQUE. IN THE LATTER CASE, AN OXIDATION OF THE FILM IS ACCOMPLISHED, LEADING TO AL2O3 (ALUMINA) FORMATION. THE CHARACTERIZATION OF GAAS THIN FILMS AND THE HETEROSTRUCTURE FORMED BY AL2O3 AND GAAS IS ALSO CARRIED OUT. THE ELABORATION OF THE DEVICE COMBINING THESE COMPOUNDS ALLOWS INVESTIGATING THE RELEVANT CHARACTERISTICS OF THIS SYSTEM TO POTENTIAL APPLICATION IN TRANSISTORS. THE WORK EVOLVED INVESTIGATION ON THE DEPOSITION CONDITIONS, AND THE ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF THE FILMS WERE ALSO EVALUATED SEPARATELY. RESULTS INCLUDES: RESISTIVITY AS FUNCTION OF TEMPERATURE, X-RAY DIFFRACTION AND NEAR INFRARED TRANSMITTANCE. FOR CHARACTERIZATION OF THE PERFORMANCE OF THE AL2O3/GAAS SYSTEM, A SIMPLE TRANSISTOR WAS BUILT ON A BOROSILICATE GLASS SUBSTRATE, WITH A AL2O3 LAYER ON TOP OF A GAAS LAYER. THE CONTACTS OF SOURCE, DRAIN AND GATE WERE DONE USING IN. THIS STRUCTURE ALLOWS EVALUATING THE LEAK CURRENT AND OTHER CHARACTERISTICS OF THIS SYSTEM. IN THIS DEVICE, IT WAS EVALUATED THE CURRENT ?VOLTAGE CHARACTERISTICS AND THE INTERACTION WITH LIGHT, BECAUSE GAAS, DUE TO ITS DIRECT BANDGAP, BECOME VERY ATTRACTIVE FOR OPTO-ELECTRONIC APPLICATIONS. THEN, THE PHOTO-INDUCED ELECTRICAL MEASUREMENTS WERE DONE UNDER EXCITATION WITH WHITE LIGHT. AIMING THE EVALUATION OF THE QUALITY OF FILMS DEPOSITED BY THE RESISTIVE EVAPORATION TECHNIQUE, ELECTRICAL AS WELL AS STRUCTURAL CHARACTERIZATION WERE ALSO CARRIED OUT FOR GAAS THIN FILMS DEPOSITED BY SPUTTERING, IN ORDER TO HAVE A COMPARING PARAMETER.

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